分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬用表、電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點。 實施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發生器、波形發生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。半導體特性測試儀IV曲線掃描儀認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；

產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作          

內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.03%

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：高至300V，低至3pA

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

技術參數

S系列源表應用

分立器件特性測試：電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態測試系統；
電流傳感器：動靜態參數測試系統；

更多有關半導體特性測試儀IV曲線掃描儀的信息找普賽斯儀表專員為您解答，武漢普賽斯是國內Z早生產源表的廠家，產品系列豐富：產品覆蓋不同的電壓、電流范圍，產已經過了市場的考驗、市面有近500臺源表在使用；普賽斯儀表特色：高電流、高電壓測試，3500V電壓下可測量pA級漏電流，1000A脈沖電流源15us的超快上升沿。